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近年のナノテクノロジーは、異なる材料（たとえば半導体材料と生体材料）を融合させて、新しい機能や物性を発見・定式化しようという方向にも進んでいる。そこで重要となるのが、観測対象に応じて新しい構造や機能をナノスケールで正しく計測・評価できる技術や手法である。本書は、数ある計測技術／手法について、電子線を用いる方法、光を用いる方法、原子レベルでの観察を可能とする走査型プローブ顕微鏡法に分けて解説する。単なる計測法の紹介ではなく、その原理や最先端の研究例についても図版を使って説明する。
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